Dynamic Power Supply Current Testing for Open Defects in CMOS SRAMs

机译：CmOs sRam中开路缺陷的动态电源电流测试

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Hong Sik Kim (e-mail; Doe-hyun Yoon; Hong-sik Kim; Sungho Kang;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2000
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Dynamic Power Supply Current Testing for Open Defects in CMOS SRAMs [J] . Doe-Hyun Yoon, Hong-Sik Kim, Sungho Kang ETRI journal . 2001,第2期

机译：动态电源电流测试，用于CMOS SRAM中的开路缺陷
2. Dynamic power supply current testing of CMOS SRAMs [J] . Jian Liu, Rafic Z. Makki, Ayman Kayssi Journal of Electronic Testing: Theory and Applications: Theory and Applications . 2000,第5期

机译：CMOS SRAM的动态电源电流测试
3. Dynamic power supply current testing of CMOS SRAMs [J] . Jian Liu, Rafic Z. Makki, Ayman Kayssi Journal of Electronic Testing: Theory and Applications: Theory and Applications . 2000,第5期

机译：CMOS SRAM的动态电源电流测试
4. Dynamic power supply current testing of CMOS SRAMs [C] . Jian Liu, Makki R.Z., Kayssi A. Test Symposium, 1998. ATS '98. Proceedings. Seventh Asian . 1998

机译：CMOS SRAM的动态电源电流测试
5. New dynamic power supply current testing methodologies for very deep sub-micron CMOS circuits. [D] . Chehab, Ali Mohamad. 2002

机译：适用于非常深的亚微米CMOS电路的新型动态电源电流测试方法。
6. A RRAM Integrated 4T SRAM with Self-Inhibit Resistive Switching Load by Pure CMOS Logic Process [O] . Meng-Yin Hsu, Chu-Feng Liao, Yi-Hong Shih, 2017

机译：采用纯CMOS逻辑工艺的具有自抑制电阻切换负载的RRAM集成4T SRAM
7. Improvement of detectability for CMOS floating gate defects in supply current test [O] . Michinishi, Hiroyuki, Yokohira, Tokumi, Okamoto, Takuji, 2003

机译：改善电源电流测试中CMOS浮栅缺陷的可检测性
8. Improvement of a high current DC power supply system for testing the large scaled superconducting cables and magnets [R] . Yamada, S. , Chikaraishi, H. , Tanahashi, S. 1993

机译：改进用于测试大规模超导电缆和磁体的高电流DC电源系统

Dynamic Power Supply Current Testing for Open Defects in CMOS SRAMs

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅